
作為國內率先實現高精度數字源表(SMU)產業化的半導體測試裝備優質供應商,普賽斯儀表副總經理王承博士受邀出席并發表《SiC電功率半導體材料包塊檢查終極挑戰及預防》主題演講。

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會上,普賽斯儀表副總經理王承博士闡述了如何準確可靠地實現SiC功率器件的測試方案,以新能源領域車規級功率器件參數測試為切入點,分享了在新能源領域功率器件成套解決方案等方面的關鍵舉措。本場演講重點介紹了普賽斯儀表實驗室、高低溫、產線半自動/全自動等功率半導體靜態參數測試解決方案,廣(guang)泛(fan)適用于(yu)從實(shi)驗室到小批量、大(da)批量產線的(de)全方位應用,幫助(zhu)國產功率半導體廠(chang)商(shang)加快研發(fa)測(ce)試(shi)以及批量化生(sheng)產進程。
普賽斯工率配件外部技術指標考試裝置,是武漢普賽斯經過精心設計與打造的高精密電壓/電流測試分析系統。該系統不僅提供IV、CV、跨導等多(duo)元化的(de)測(ce)試功(gong)能,還(huan)具備高(gao)精(jing)度、寬測(ce)量范圍(wei)、模(mo)塊化設計以(yi)及(ji)便捷的(de)升級擴展等顯著優(you)(you)勢。其設計初衷(zhong)在于全(quan)面滿足從基礎功(gong)率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到(dao)寬禁帶半(ban)導體SiC、GaN等晶圓(yuan)、芯片、器(qi)件(jian)及(ji)模(mo)塊的(de)靜態參(can)數表(biao)征和測(ce)試需求,確保測(ce)量效(xiao)率、一致性與可靠性的(de)優(you)(you)異(yi)表(biao)現。

PMST工作功率集(ji)成電路(lu)芯片靜態變量(liang)性能(neng)檢查體(ti)統

PSS TEST冗余高高低溫半(ban)手動公測體統(tong)

PMST-MP 靜態變量(liang)技術指標半重新化測試英文系統性(xing)

PMST-AP 靜態式的參數指標全會機(ji)械化檢查(cha)操作(zuo)系統
大電流輸出響應快,無過沖

高壓測試支持恒壓限流,恒流限壓模式

普賽斯儀表作為半導體電性能測試領域的權威解決方案供應商,始終秉持創新技術與匠心精神的融合,深耕于功率半導體市場。
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