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專一于半導體設備電穩定性軟件測試

普賽斯儀表攜功率半導體電性能測試設備亮相慕尼黑上海電子展!

來源:admin 日期:2024-07-13 08:59 查看量:1609

         7月8日,2024慕尼黑上海電子展在上海新國際博覽中心開幕,本屆展會以新能源汽車、儲能、智能駕駛、衛星通信、機器人、可穿戴、智能建筑、邊緣智能、智慧電源、第三代半導體等應用領域為年度熱門趨勢,匯聚國內外優質電子企業,旨在打造從產品設計到應用落地的橫跨產業上下游的專業展示平臺。普賽斯儀表攜半導體測試測量設備及測試解決方案亮相E7館 7162展位。

        半導體電子器件機械產業化化成為光電問題生產企業海岸,是市場資金和社會的不斷發展的戰略方針性、先導性和條件性產業化化, 針對的最終目標大量的高級學科技術水平。“碳達峰”、“碳結合”最終目標也與此同時透露和明確了燃料架構調控放向,第三將高效降碳、減碳市場資金融入高潮時。以IGBT為代替的電功率半導體電子器件機械是電氣光電機械的管理的本質電子器件,也是燃料裝換與數據傳輸的至關重要。

        在新能源汽車、光伏儲能、軌道交通、工業控制等領域,氧化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等第三代半導體材料由于其具有高溫、高壓、高頻、抗輻射等特點備受青睞,可實現更高效的電子電力設備。然而,由于其上市應用時間相對較短,潛在的缺陷尚未完全暴露,失效機制也尚未清晰。因此,通過合理的測試測試措施,對其(qi)進行有效的評(ping)估(gu)和驗(yan)證(zheng)尤為重要(yao)。

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        通常,IGBT/SiC/GaN功率半導體器件特性測試分為靜態特性測試和動態特性測試,靜態特性測試主要是表征器件本征特性指標,如擊穿電壓 V(BR)DSS、漏電流ICES/IDSS/IGES/IGSS、閾值電壓VGS(th)、跨導Gfs、壓降VF 、導通內阻RDS(on)等(deng)(deng);動態特(te)(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)是(shi)功率半導體(ti)器件的(de)重(zhong)要(yao)特(te)(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing),如開通特(te)(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)、關(guan)斷特(te)(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)、FRD反向恢復特(te)(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)、柵(zha)極(ji)電荷特(te)(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)、短(duan)路特(te)(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)、模塊電感(gan)特(te)(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)、安全(quan)工(gong)作區SOA特(te)(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)等(deng)(deng),主(zhu)要(yao)采用雙脈(mo)沖測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)進行。


深度融合

  功率半導體電性能表征一站式解決方案  

                普賽斯儀表盤以主導源表為基礎知識,集中公率光電器件材料考試圖片訴求,從最底層產品研發入手,大規模助推多維高技藝的融成特色化,對主導高技藝行動克難,展會上活動現場展覽了公率光電器件材料外部考試圖片合一化應對方式。

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PMST系列功率器件靜態參數測試系統

        PMST系列功率器件靜態參數測試系統集多種測量和分析功能于一體,不僅提供IV、CV、跨導等多元化的測試功能,具備高電壓和大電流特性(10kV/6000A),以及μΩ級精確電阻測量和nA級漏電流測量能力,能夠全面滿足從基礎功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁帶半導體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模塊的靜態參數表征和測試需求。基本點關鍵所在儀表盤均自己新產品開發,憑借其優異的性能、靈活的配置(zhi)和易(yi)操(cao)作的用戶(hu)界面,成為(wei)眾多功率半導(dao)體廠家靜態參數測試的優選(xuan)工具。

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SPA6100半導體器件規格解析儀

        SPA6100半導體參數分析儀可以同時支持DC電壓降值電流-電壓降值(I-V)、電容(電容器)-電壓降值(C-V)以及高流高壓電下單脈沖式I-V性質的測試。產品支持最高1200V功率電壓、100A大功率、1pA小功率判定率的(de)(de)測(ce)(ce)量,同時檢測(ce)(ce)10kHz至1MHz范(fan)圍內的(de)(de)多(duo)頻AC電容(rong)測(ce)(ce)量。搭載(zai)專(zhuan)用半導體參(can)數測(ce)(ce)試軟件,支持(chi)交互式手動(dong)操作(zuo)或結合探針臺的(de)(de)自(zi)動(dong)操作(zuo),能夠(gou)從測(ce)(ce)量設置(zhi)、執(zhi)行、結果(guo)分析到數據(ju)管理(li)的(de)(de)整個過程,實(shi)現高(gao)(gao)效和可重復的(de)(de)器件表征;也可與高(gao)(gao)低溫箱、溫控(kong)模塊等搭配使(shi)用,滿足高(gao)(gao)低溫測(ce)(ce)試需求。


        除此以外,為順應不同工作電壓配件二極管封裝業務類型的要,普賽斯多功能儀表可出示靈活多樣化、精準化、定做化的車床夾具消除設計,可覆蓋率TO單管、半橋模組、380V半橋模組等廠品的考試。

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        展會現場,普賽斯儀表還展示了自主研發的核心源表類別(SMU)、電脈沖恒流源 (FIMV)、髙壓電源線 (FIMV、FVMI)、數據表格采集器卡等(deng)產(chan)品,以及從材料(liao)、晶圓到(dao)器件的半導(dao)體全產(chan)業鏈電(dian)性能測試解決(jue)方案,吸引了眾多業內人(ren)士的關注。

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結語

        低碳化、智能化是整個電子信息產業的長遠發展目標,也是未來的主旋律,而實現目標需要產業鏈的協同努力。可以信賴更高效的測試圖片產品,是光電器件服務業經濟發展和進步作文無法或缺的比較重要部分之三

        普賽斯儀器儀表當作國產首例實現了目標實現了高精度儀器源/校正模塊SMU服務業化的行業,必備條件幾年的方法積攢和科技的創新科技成果,末來將時常始終如一科技的創新驅程、保持加高研制投放,以可薦異的測試方法方法肋力服務業成長!


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